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馬爾文帕納科激光粒度儀Mastersizer 3000+ 在廣受贊譽的 Mastersizer 3000硬件平臺上,進一步優化性能,增加了多項智能輔助功能,讓設備更易用,結果的確信度更高。
馬爾文帕納科臺式XRF能譜儀一體機Epsilon 1 是一款集成型能量色散型 XRF 分析器,其包括光譜儀、內置計算機、觸摸屏和分析軟件。 Epsilon 1 采用激發和檢測技術的新成果,是低成本小型...
馬爾文帕納科納米粒度電位儀Zetasizer Ultra 是用于測量顆粒與分子大小、顆粒電荷和顆粒濃度的系統,在結合了 Zetasizer Pro 和 Lab 所有特性和優點的基礎上,增加了多角度動態...
Zetasizer Pro馬爾文帕納科納米粒度電位儀是一款功能強大、用途廣泛的常規實驗室測量解決方案,可測量顆粒粒度、分子大小、電泳遷移率、Zeta 電位和分子量。 與以往型號相比,其粒度測量速度超過...
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粒度儀數據反映顆粒的大小分布,而分形維數則是對這種分布背后“形態復雜性”的量化。通過計算分形維數,能從傳統粒度分析中挖掘出更深層的結構信息,為理解顆粒的形成機制、優化制備工藝、預測性能提供重要依據。本文中將介紹利用MS3000粒度儀測試數據計算分形維數的操作步驟。什么是分形維數?分形(fractal)理論是為描述具有自相似性自然碎片或不規則結構而提出的。例如土壤粒徑、顆粒表面積、顆粒體積和孔隙大小等具有自相似特征,應用分形理論來定量描述土壤形態和性質已成為土壤科學研究的重要方...
近日,第十八屆藥機展(PMEC2025)在上海新國際博覽中心落下帷幕,馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會所展示的顆粒、粉體等先進表征技術備受業內人士關注。稍顯遺憾的是很多行業客戶沒有辦法到現場參觀交流,且由于展位面積有限,更多產品和方案沒有辦法現場展示。為了讓大家更多地了解馬爾文帕納科和麥克應用于醫藥行業的產品和解決方案,本文將整理摘錄完整的醫藥行業方案,并在文中附上馬爾文帕納科和麥克默瑞提克制藥行業產品手冊,您可點擊下載了解詳情。儀器設備和檢測技術貫穿醫藥產業鏈的研發、生...
針對半導體行業,馬爾文帕納科最新推出的高速晶向定位系列解決方案,可實現從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質量檢查,覆蓋從晶棒-鑄錠-切片和晶圓制程的全部應用。利用XRD分析技術在晶圓生產的全部流程中,提供簡單、快速、高精度的晶體定向測量,大大提高產品良率。小巧多工的DDCOM和SDCOM系列能夠在不影響精度的情況下高速完成測量,Omega/ThetaXRD系列在晶格測定方面可提供超高的測量精度和速度,WaferXRD系列利用晶圓端控制的高級分揀選項提供高通量篩選,XRD-OE...
納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析(NTA)技術的高精度物理性能測試儀器,主要用于測量納米顆粒的粒徑、濃度及Zeta電位等多參數信息。該儀器通過激光照射納米顆粒懸浮液,利用高分辨率顯微鏡捕捉顆粒的布朗運動軌跡,并結合專用軟件分析粒徑分布。其核心在于通過追蹤單個顆粒的隨機運動,結合斯托克斯-愛因斯坦方程,推算出顆粒的流體力學半徑,實現高精度測量。部分儀器還集成了微電泳技術,可同步測定Zeta電位,反映顆粒表面電荷特性。為確保測量結果的準確性和可靠性,納米顆粒跟蹤分析儀...