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粒度儀數據反映顆粒的大小分布，而分形維數則是對這種分布背后“形態復雜性”的量化。通過計算分形維數，能從傳統粒度分析中挖掘出更深層的結構信息，為理解顆粒的形成機制、優化制備工藝、預測性能提供重要依據。本文中將介紹利用MS3000粒度儀測試數據計算分形維數的操作步驟。什么是分形維數？分形（fractal）理論是為描述具有自相似性自然碎片或不規則結構而提出的。例如土壤粒徑、顆粒表面積、顆粒體積和孔隙大小等具有自相似特征，應用分形理論來定量描述土壤形態和性質已成為土壤科學研究的重要方...

近日，第十八屆藥機展（PMEC2025）在上海新國際博覽中心落下帷幕，馬爾文帕納科攜麥克默瑞提克在此次展會所展示的顆粒、粉體等先進表征技術備受業內人士關注。稍顯遺憾的是很多行業客戶沒有辦法到現場參觀交流，且由于展位面積有限，更多產品和方案沒有辦法現場展示。為了讓大家更多地了解馬爾文帕納科和麥克應用于醫藥行業的產品和解決方案，本文將整理摘錄完整的醫藥行業方案，并在文中附上馬爾文帕納科和麥克默瑞提克制藥行業產品手冊，您可點擊下載了解詳情。儀器設備和檢測技術貫穿醫藥產業鏈的研發、生...

針對半導體行業，馬爾文帕納科最新推出的高速晶向定位系列解決方案，可實現從全自動的在線分析到晶圓材料的快速質量檢查，覆蓋從晶棒-鑄錠-切片和晶圓制程的全部應用。利用XRD分析技術在晶圓生產的全部流程中，提供簡單、快速、高精度的晶體定向測量，大大提高產品良率。小巧多工的DDCOM和SDCOM系列能夠在不影響精度的情況下高速完成測量，Omega/ThetaXRD系列在晶格測定方面可提供超高的測量精度和速度，WaferXRD系列利用晶圓端控制的高級分揀選項提供高通量篩選，XRD-OE...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術的高精度物理性能測試儀器，主要用于測量納米顆粒的粒徑、濃度及Zeta電位等多參數信息。該儀器通過激光照射納米顆粒懸浮液，利用高分辨率顯微鏡捕捉顆粒的布朗運動軌跡，并結合專用軟件分析粒徑分布。其核心在于通過追蹤單個顆粒的隨機運動，結合斯托克斯-愛因斯坦方程，推算出顆粒的流體力學半徑，實現高精度測量。部分儀器還集成了微電泳技術，可同步測定Zeta電位，反映顆粒表面電荷特性。為確保測量結果的準確性和可靠性，納米顆粒跟蹤分析儀...

展期：2025年6月24日-26日展館：上海新國際博覽中心W5館地址：上海市浦東新區龍陽路2345號展位號：W5P10W5P10馬爾文帕納科展位效果圖2025年6月24日至26日，馬爾文帕納科（MalvernPanalytical）與旗下麥克默瑞提克（Micromeritics）將再次同臺共秀，亮相上海新國際博覽中心舉行的第十八屆世界制藥機械、包裝設備與材料中國展（PMEC2025）。醫藥領域是繼電池行業之后馬爾文帕納科和麥克的另一個重點交叉市場，此次展會，兩個品牌將攜手貢獻...

XRD（X射線衍射）高通量測試是一種能在短時間內對大量樣品進行快速分析的技術，其發展與應用主要源于傳統XRD測試在面對復雜樣品體系和大規模分析需求時的局限性。馬爾文帕納科最新推出了Aeris高容量樣品進樣器，突破小型化儀器高通量自動化分析的可能性，為這款高性能緊湊型的XRD插上了高通量測試的翅膀，也為客戶提供了更高性價比且面向未來的新選擇。Aeris高容量樣品進樣器擁有超過60個樣品位，為您的批量樣品或復雜樣品體系環境帶提供自動化、全天候分析能力，將操作員的工作量減少高達50...

樣機限時特惠：最高可享50%折扣!馬爾文帕納科和麥克默瑞提克的儀器具有卓越的分析性能，可以為您大幅節約成本并迅速提高產能。現在，只需極低的花費即可將我們的實驗室樣機帶回您的實驗室。優惠獲得高性能的演示用樣機，快速提升您實驗室的檢測能力！馬爾文帕納科位于全球各地應用實驗室中的樣機主要用于向潛在客戶進行儀器的性能演示。目前，適逢應用中心設備更新季，多款樣機將優惠出清，它們已經準備好為您的研究提供高性價比的選擇。這些儀器由我們的內部服務和應用團隊專業維護，確保它們達到最高的質量和性...

馬爾文帕納科年中促銷季下單粒度等相關產品即享“買一贈一*”特惠預約觀看6.12促銷直播活動還將獲贈更多福利馬爾文帕納科粒度儀產品促銷直播2025年6月12日14:00-17:00Mastersizer3000+智能激光粒度儀專場14:00-15:00?Mastersizer系列產品講解功能及軟件演示促銷福利大放送Zetasizer系列納米粒度電位儀專場16:00-17:00Zetasizer系列產品講解功能及軟件演示促銷福利大放送促銷季多重福利1、6月25日前下單即刻咨詢并在...