X射線熒光光譜儀是一種用于快速、無損分析物質元素組成的先進儀器,在眾多領域發揮著關鍵作用。其工作原理基于X射線熒光現象。當高能X射線照射樣品時,樣品中的原子內層電子被激發,產生空穴。外層電子躍遷填補空穴,同時釋放出具有特定能量的特征X射線熒光。通過探測和分析這些熒光的能量和強度,就能確定樣品中存在的元素種類及其含量。
XRF具有諸多顯著優勢。它屬于非破壞性分析技術,無需對樣品進行復雜的預處理,能保持樣品的原始狀態,對于珍貴文物、考古樣品等的分析尤為適用。分析速度快,可在短時間內獲得多個元素的含量信息,大大提高了檢測效率。而且,它能夠同時檢測從輕元素(如鈉)到重元素(如鈾)的廣泛元素范圍,應用領域極為廣泛。
一、X射線發生器高壓無法開啟
問題表現:
開機或運行中高壓無法啟動,或啟動后幾分鐘跳閘。
原因分析:
X射線防護系統異常:
防護面板未完q閉合或警示標志故障,導致安全機制鎖定高壓。
檢查面板位置傳感器和警示燈聯動狀態。
內循環水系統故障:
電導率過高(去離子樹脂失效)、水位過低或葉輪銹蝕導致流量不足。
過濾網堵塞也可能引發高壓跳閘。
高壓發生器或X射線光管損壞:
保險絲熔斷、電路開關異常或光管與電纜連接不良。
解決方法:
檢查防護系統,確保面板閉合且警示標志正常。
更換去離子樹脂、清理過濾網,補充或更換低電導率水。
測試高壓發生器電路,更換損壞的光管或電纜。
二、光譜室/樣品室真空度不足
問題表現:
真空無法達到規定值,影響檢測精度。
原因分析:
真空泵效率下降:
長期吸入粉末或油霧導致真空泵油粘度變化,需更換真空泵油。
樣品室漏氣:
樣品自轉裝置密封圈磨損(常見于長期運行設備)。
光譜室流氣計數器漏氣:
窗膜破損或氣路接口密封不良。
解決方法:
單獨測試真空泵性能,清潔或更換真空泵油。
更換樣品自轉裝置的密封圈,清理光譜室氣路并檢查窗膜完整性。
三、計數率不穩定或噪聲大
問題表現:
檢測信號波動明顯,或計數率異常偏高/偏低。
原因分析:
流氣計數器窗膜污染或老化:
窗膜導電性下降(如鋁膜裂紋),導致X射線吸收效率變化。
探測器電路故障:
前置放大電路異常或高壓不穩。
解決方法:
清潔或更換流氣計數器窗膜,測試氣體過濾器。
檢查探測器高壓供電和電路穩定性,必要時聯系廠商維修。
四、2θ掃描峰形異常
問題表現:
峰形出現鋸齒狀或噪聲信號,無元素特征峰。
原因分析:
晶體衍射面污染:
手指接觸或異物附著導致晶格間距變化。
測角儀耦合關系失調:
θ與2θ軸定位偏差(如CMOS數據丟失)。
解決方法:
使用無塵布清潔晶體表面,避免直接接觸衍射面。
重新校準測角儀的θ與2θ耦合關系(需專業工程師操作)。
五、其他常見問題
1.X光管頻繁自動關閉
原因:光管過熱(散熱風扇故障或排風不暢)。
解決方法:清理或更換散熱風扇,檢查通風口是否堵塞。
2.樣品進樣失敗或漏氣
原因:進樣軸封老化、O形環損壞或樣品盒卡滯。
解決方法:更換軸封密封件,清理進樣軌道并潤滑。
3.熒光不自檢或聯機失敗
原因:真空泵過濾網堵塞或系統參數錯誤(如“ICS”配置沖突)。
解決方法:清理過濾網,重置聯機參數或恢復出廠設置。
