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“顆粒知識庫”上一篇文章中，我們講了干法測量中分散壓力的選擇與評估方法，那么激光粒度儀干法測試結果的準確性除了受分散壓力的影響外，還有其他的影響因素，我們又要如何判斷結果是否準確呢？讓我們接著上一期的話題繼續為大家答疑解惑。01丨干法測試的保證一般情況下，為確保干法測試結果的準確，測試過程中需要滿足以下三個條件：取樣：保證均一性物質參數設置正確：折射率和吸收率測試條件合適：保證良好的進樣速度，選擇合適的分散壓力在滿足上述三個條件后，獲得良好的數據重現性，數據質量即可確認為可靠...

摘要在鋰離子電池正極材料的晶體結構表征中，正極材料中的過渡金屬元素與常規銅靶X射線的相互作用易誘發強烈二次熒光效應，導致衍射圖譜背景增高，信噪比不佳。是否可以通過更改光路配置，達到高靈敏度和最佳的數據質量？本文通過實際案例為您介紹馬爾文帕納科X射線衍射儀測量正極材料時的最佳光路配置，幫助您在測試中獲取更好的數據。1背景介紹X射線衍射（XRD）是分析鋰離子電池正極材料的一種重要工具。正極材料，例如常用于電動車（EV）電池的磷酸鐵鋰（LFP）和三元氧化物（NMC），可能存在陽離子...

納米粒度電位儀是一種重要的分析儀器，用于測量納米級別顆粒的大小和電位變化的儀器。其基本原理是利用電泳和沉降原理，通過測量顆粒在電場中的移動速度來推算出顆粒的大小和電位。在電場作用下，顆粒會受到電場力的作用而發生移動，其移動速度與顆粒的大小、形狀和電荷量有關。納米粒度電位儀具有以下技術特點：1、高精度測量粒徑測量精度高：采用動態光散射（DLS）等先進技術，能夠精確測量納米顆粒的粒度大小，可檢測到小至0.6nm的顆粒，對于大顆粒的測量上限也能達到10μm左右，測量精度通?？蛇_到&...

馬爾文帕納科晶圓分析儀是一種專門用于測量和分析晶圓特性的高精度儀器。其主要用于測量晶圓的多種參數，如層結構、厚度、摻雜度和表面均勻性等。這些參數對于半導體和數據存儲行業至關重要，因為它們直接影響到芯片的性能和可靠性。晶圓分析儀的工作原理主要基于X射線熒光光譜（XRF）技術。該技術利用X射線激發晶圓表面的原子，使其發射出特征熒光光譜。通過分析這些熒光光譜，可以確定晶圓表面的元素組成和含量，進而推導出晶圓的多種參數。馬爾文帕納科晶圓分析儀的性能特點：1、高分辨率成像先進的光學系統...

本文摘要盡管ADC藥物被譽為腫瘤治療的“靈藥”，但其研發仍面臨多重瓶頸。本文將介紹馬爾文帕納科PEAQ-DSC微量熱差式掃描量熱儀在ADC藥物研發過程中的應用實例，使您充分了解其出色的熱分析能力，以及其如何幫助ADC藥物研發人員解決難題。盡管ADC藥物被譽為腫瘤治療的“靈藥”，但其研發仍面臨多重瓶頸：結構復雜性：抗體、連接子、毒素的三元組合對穩定性提出高要求；長期儲存難題：高疏水性毒素易引發聚集，縮短藥物貨架期。工藝一致性：批間差異易導致療效波動，增加臨床失敗風險；馬爾文帕納...