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納米粒度電位儀是一種用于測量納米及亞微米級顆粒粒徑、Zeta電位等參數的分析儀器，在化學、材料科學、生物醫藥等領域應用廣泛。該儀器主要基于動態光散射（DLS）、電泳光散射（ELS）和靜態光散射（SLS）技術工作。動態光散射通過檢測顆粒布朗運動速度計算粒徑分布；電泳光散射測量顆粒在外加電場中的遷移率，轉化為Zeta電位值；靜態光散射則利用散射光強直接測定高分子物質的絕對分子量及第二維利系數。其粒徑檢測范圍通常覆蓋0.3nm至10μm，支持低至12μL的微量樣品檢測，并具備自動化...

本文摘要在藥物顆粒粒徑表征和方法開發研究中，會遇到各類困擾研發人員的問題，包括背景、干擾、參數篩選、分散體系選擇、方法轉移、結果分析和對比，以及儀器簡單清理等日常維護。本文針對這類問題集中歸納分析，并給出專業的指導意見和解決方案。01丨濕法分散粒徑分布圖顯示大顆粒，是真實存在的顆粒嗎？濕法分散中出現有大顆粒分布，首先需要重復測樣或用顯微鏡輔助觀測判斷大顆粒情況，以排除樣品中確有真實的大顆粒的情況。而如果不是真實顆粒造成大顆粒分布的原因，有可能是藥物分散體系中揮發性有機試劑造成...

粉末衍射儀是一種基于X射線衍射技術的分析儀器，主要用于晶體物質的定性和定量分析以及物相結構研究。其核心原理是當X射線照射到晶體樣品時，因晶體內部原子周期性排列，X射線會在特定方向上發生衍射加強，形成特征衍射圖譜。儀器通過測量這些圖譜，可獲取晶格參數、結晶度等關鍵信息。該儀器由X射線光源、測角儀、探測器及控制系統等核心部件組成。其中，測角儀負責精確控制樣品與探測器的角度，主流型號的測角儀角度精度可達0.0001°，測角半徑最大超過280mm；探測器類型涵蓋單光子計數、陣列及閃爍...

激光噴霧粒度儀是一種用于測量噴霧、氣霧劑等微小顆粒尺寸及其分布的精密儀器，在多個領域發揮著重要作用。其工作原理基于激光散射現象。激光器發出平行且單色的激光束，照射到噴霧中的顆粒上，顆粒會使激光發生散射，散射光的角度和強度與顆粒大小、形狀、折射率等因素相關。通過收集和分析散射光信號，儀器能計算出顆粒的粒徑分布。該儀器具有諸多優勢。它測量精度高，能實現微米級甚至納米級的粒度測量，精度可達1%；速度極快，一般幾秒鐘即可完成一個樣品的測試，大幅提高工作效率；測量范圍廣，可滿足不同行業...

X射線熒光光譜儀是一種基于X射線熒光效應的分析儀器，主要用于元素的定性和定量分析。其工作原理是利用高能X射線照射樣品，激發樣品中的原子內層電子，使其躍遷到高能級，隨后外層電子填補空穴并釋放出特征X射線熒光。這些熒光的能量或波長具有元素特異性，通過檢測和分析這些特征信號，可確定樣品中的元素組成及含量。該儀器具有快速、非破壞性、高精度和高靈敏度的特點，能夠同時檢測多種元素，操作簡便且分析效率高。它廣泛應用于金屬、玻璃、陶瓷、建材、地球化學、法醫學、考古學和藝術品分析等領域。例如，...