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納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術的高精度物理性能測試儀器，主要用于測量納米顆粒的粒徑、濃度及Zeta電位等多參數信息。該儀器通過激光照射納米顆粒懸浮液，利用高分辨率顯微鏡捕捉顆粒的布朗運動軌跡，并結合專用軟件分析粒徑分布。其核心在于通過追蹤單個顆粒的隨機運動，結合斯托克斯-愛因斯坦方程，推算出顆粒的流體力學半徑，實現高精度測量。部分儀器還集成了微電泳技術，可同步測定Zeta電位，反映顆粒表面電荷特性。為確保測量結果的準確性和可靠性，納米顆粒跟蹤分析儀...

本文摘要SiC端面傾角度數會影響晶體生長動力學、界面特性和器件的電場分布，決定了SiC功率器件的性能，傾角控制精度已從“工藝參數”升級為“核心競爭力”，本文將介紹4°傾角及其方向的重要性，以及馬爾文帕納科高精度晶向定位儀Omega/theta如何幫助SiC襯底量產保持高的傾角控制技術。01丨碳化硅的生長模式無論是PVT還是HTCVD生長碳化硅單晶，都涉及到了氣固相變。所以，這個生長具有三種模式：島狀生長（Volmer-Weber，VW）、層狀生長（Frankvander-Me...

X射線衍射儀是一種利用X射線衍射原理來精確測定物質的晶體結構、織構及應力，進行物相分析、定性分析、定量分析的儀器。其基本原理是：當一束X射線照射到晶體物質上時，由于晶體是由原子規則排列成的晶胞組成，這些規則排列的原子間距離與入射X射線波長有相同數量級，故由不同原子散射的X射線相互干涉，在某些特殊方向上產生強X射線衍射。衍射線在空間分布的方位和強度與晶體結構密切相關，不同的晶體物質具有自己獨t的衍射圖樣。通過分析這些衍射圖樣，可以獲得物質的晶體結構信息。以下是X射線衍射儀的安裝...

納米顆粒跟蹤分析儀是一種基于納米顆粒跟蹤分析（NTA）技術的物理性能測試儀器，在科研和工業領域發揮著重要作用。該儀器通過激光照射含有納米顆粒的樣品池，顆粒散射的光被顯微鏡捕捉并由相機記錄，形成顆粒運動的視頻。專用軟件逐幀分析視頻，自動識別并跟蹤每個顆粒的移動路徑，計算其擴散系數，再通過斯托克斯-愛因斯坦方程推算粒徑。其核心光學系統包含激光散射視頻顯微鏡和高靈敏度CMOS傳感器，支持10-2000nm粒徑檢測范圍，具備熒光檢測功能，可支持430/565/650nm多波長檢測，能...

展期：2025年6月24日-26日展館：上海新國際博覽中心W5館地址：上海市浦東新區龍陽路2345號展位號：W5P10W5P10馬爾文帕納科展位效果圖2025年6月24日至26日，馬爾文帕納科（MalvernPanalytical）與旗下麥克默瑞提克（Micromeritics）將再次同臺共秀，亮相上海新國際博覽中心舉行的第十八屆世界制藥機械、包裝設備與材料中國展（PMEC2025）。醫藥領域是繼電池行業之后馬爾文帕納科和麥克的另一個重點交叉市場，此次展會，兩個品牌將攜手貢獻...

XRD（X射線衍射）高通量測試是一種能在短時間內對大量樣品進行快速分析的技術，其發展與應用主要源于傳統XRD測試在面對復雜樣品體系和大規模分析需求時的局限性。馬爾文帕納科最新推出了Aeris高容量樣品進樣器，突破小型化儀器高通量自動化分析的可能性，為這款高性能緊湊型的XRD插上了高通量測試的翅膀，也為客戶提供了更高性價比且面向未來的新選擇。Aeris高容量樣品進樣器擁有超過60個樣品位，為您的批量樣品或復雜樣品體系環境帶提供自動化、全天候分析能力，將操作員的工作量減少高達50...

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馬爾文帕納科年中促銷季下單粒度等相關產品即享“買一贈一*”特惠預約觀看6.12促銷直播活動還將獲贈更多福利馬爾文帕納科粒度儀產品促銷直播2025年6月12日14:00-17:00Mastersizer3000+智能激光粒度儀專場14:00-15:00?Mastersizer系列產品講解功能及軟件演示促銷福利大放送Zetasizer系列納米粒度電位儀專場16:00-17:00Zetasizer系列產品講解功能及軟件演示促銷福利大放送促銷季多重福利1、6月25日前下單即刻咨詢并在...